GOYOJO GUF750
GOYOJO GUF750 ულტრაბგერითი დეფექტის დეტექტორის მომხმარებლის სახელმძღვანელო
Model: GUF750 | Brand: GOYOJO
1. შესავალი
The GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector is a portable, high-performance instrument designed for non-destructive testing (NDT) applications. It utilizes ultrasonic waves to detect internal defects such as cracks, inclusions, and porosity in various materials. Featuring a 5-inch IPS touchscreen, the GUF750 offers advanced functions including DAC (Distance Amplitude Correction) and AVG (Amplitude Gain Value) for precise flaw characterization and thickness gauging. This manual provides essential information for the safe and effective operation, maintenance, and troubleshooting of your device.
2. უსაფრთხოების ინფორმაცია
Please read and understand all safety instructions before operating the GOYOJO GUF750. Failure to follow these guidelines may result in injury or damage to the device.
- ელექტრომომარაგება: Use only the provided power adapter and cables. Ensure the power source matches the device's requirements.
- გარემო: Operate the device within the specified temperature and humidity ranges. Avoid exposure to extreme temperatures, direct sunlight, moisture, or corrosive environments.
- დამუშავება: მოწყობილობას სიფრთხილით მოეპყარით. მოერიდეთ მის დავარდნას ან ძლიერ დარტყმებს.
- მოვლა: არ სცადოთ მოწყობილობის დამოუკიდებლად დაშლა ან შეკეთება. ყველა სახის მომსახურება კვალიფიციურ პერსონალს მიანდეთ.
- ზონდები: Ensure probes are correctly connected and maintained. Damaged probes can lead to inaccurate readings.
- ბატარეა: Do not expose the battery to high temperatures or dispose of it in fire. Follow local regulations for battery disposal.
3. პაკეტის შიგთავსი
გახსნისას დარწმუნდით, რომ ყველა ნივთი ადგილზეა და კარგ მდგომარეობაშია.
- GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector Unit
- Ultrasonic Probe (e.g., 2.5Z20N)
- Probe Connection Cable
- დენის ადაპტერი
- USB-C კაბელი
- მინი USB კაბელი
- SD ბარათი
- ტარების საქმე
- მომხმარებლის სახელმძღვანელო (ეს დოკუმენტი)

Image: GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector and its accessories, including probes, cables, and power adapter, neatly organized within a durable protective carrying case.
4. დაყენება
4.1 ბატარეის დატენვა
The GUF750 is equipped with a 7.4V 8000mAh Lithium Polymer battery. Before first use, fully charge the device.
- Connect the provided power adapter to the device's charging port (USB-C).
- შეაერთეთ დენის ადაპტერი შესაბამის ელექტრო განყოფილებაში.
- The charging indicator on the device will show the charging status. A full charge typically provides up to 12 hours of runtime.
4.2 ზონდის დაკავშირება
The GUF750 features dual LEMO-00 probe ports for versatile testing configurations.
- Identify the appropriate ultrasonic probe for your application.
- Connect the probe cable to one of the LEMO-00 ports on the device. Ensure a secure connection by aligning the connector and twisting until it locks.
- Connect the other end of the cable to the ultrasonic probe.

Image: The GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector shown with an ultrasonic probe securely connected to one of its LEMO-00 ports, ready for operation.
4.3 ჩართვა/გამორთვა
- ჩართვა: Press and hold the power button located on the device until the screen illuminates.
- გამორთვა: Press and hold the power button until a shutdown prompt appears, then confirm. Alternatively, a short press may bring up a power menu.
5. საოპერაციო ინსტრუქციები
The GUF750 features a 5-inch IPS touchscreen and intuitive physical buttons for navigation and control.

სურათი: გამჭვირვალე წინა მხარე view of the GOYOJO GUF750, highlighting its 5-inch IPS touchscreen display and the arrangement of its physical control buttons and rotary encoder.
5.1 მომხმარებლის ინტერფეისი დასრულდაview
- სენსორული ეკრანი: Navigate menus, adjust parameters, and view waveforms directly on the 5-inch IPS display.
- მბრუნავი ენკოდერი: Used for fine-tuning parameters and scrolling through options.
- ფუნქციის ღილაკები: Dedicated buttons for common functions such as gain adjustment, menu access, and waveform display modes.
5.2 ძირითადი ოპერაცია
- ზონდის კალიბრაცია: Perform a system calibration using a known reference block to ensure accurate measurements. This typically involves setting sound velocity, probe delay, and sensitivity.
- მოგების რეგულირება: Use the gain controls (physical buttons or touchscreen) to adjust the signal amplitude for optimal waveform visibility. The device offers 120dB gain with 0.1dB steps.
- Gate Settings: Configure Dual-Gate (A/B) alarms to monitor specific regions of interest for flaw detection. The gates support peak and leading-edge detection.
- ტალღის ჩვენება: Select between RF (Radio Frequency) and Full-wave demodulation modes for analyzing ultrasonic signals.
- DAC/AVG Functions: Utilize Distance Amplitude Correction (DAC) and Amplitude Gain Value (AVG) curves for evaluating flaw sizes relative to reference reflectors.
- B-Scan Imaging: The device supports high-resolution B-scan synthesis with φ2mm sensitivity. Up to 500 frames can be recorded.
- მონაცემთა ექსპორტი: Export A/B-scans and thickness maps to the SD card for further analysis and reporting.
5.3 გაფართოებული ფუნქციები
- პულსის კონტროლი: Adjust the pulser voltage (25-300V in 5ns steps), select square or dual-square wave modes, and set dynamic damping (100Ω/1000Ω). The Pulse Repetition Frequency (PRF) is adjustable from 0-10KHz.
- სტანდარტების შესაბამისობა: The GUF750 is compliant with industry standards such as AWS D1.1, NB/T 47013, and GB/T 11345 for reliable flaw characterization.
- დაკავშირება: Utilize USB-C and Mini-USB ports for data transfer and charging.
6. მოვლა
Proper maintenance ensures the longevity and accuracy of your GOYOJO GUF750.
- დასუფთავება: Use a soft, dry cloth to clean the device's exterior. For the screen, use a screen-specific cleaning solution and a microfiber cloth. Avoid abrasive cleaners or solvents.
- ზონდის მოვლა: Clean probe surfaces after each use to remove couplant residue. Inspect probe cables for damage. Store probes in a protective manner.
- ბატარეის მოვლა: For long-term storage, ensure the battery is charged to approximately 50-70%. Recharge periodically if stored for extended periods to prevent deep discharge.
- შენახვა: Store the device in its protective carrying case in a cool, dry place, away from direct sunlight and extreme temperatures.
- პროგრამული განახლებები: შეამოწმეთ მწარმოებლის webოპტიმალური მუშაობისა და ახალ ფუნქციებზე წვდომის უზრუნველსაყოფად, საიტი პერიოდულად განახლდება პროგრამული უზრუნველყოფის საშუალებით.
7. Დიაგნოსტიკა
This section addresses common issues you might encounter with your GUF750.
| პრობლემა | შესაძლო მიზეზი | გამოსავალი |
|---|---|---|
| მოწყობილობა არ ჩაირთვება | Low or depleted battery; Power button not pressed correctly; Device malfunction. | Charge the battery fully. Press and hold the power button for several seconds. If issue persists, contact support. |
| No ultrasonic signal or weak signal | Improper probe connection; Insufficient couplant; Incorrect gain settings; Damaged probe/cable. | Ensure probe and cable are securely connected. Apply adequate couplant. Adjust gain. Inspect probe/cable for damage and replace if necessary. |
| არაზუსტი წაკითხვები | Improper calibration; Incorrect material velocity setting; Surface condition issues. | Perform a system calibration. Verify material sound velocity. Ensure test surface is clean and smooth. |
| სენსორული ეკრანი არ რეაგირებს | დროებითი პროგრამული უზრუნველყოფის გაუმართაობა; ეკრანის დაზიანება. | Restart the device. If unresponsive, try a hard reset (refer to specific model instructions if available). If damage is visible, contact support. |
| Data export issues | SD card not inserted or faulty; Incorrect file ფორმატი. | Ensure SD card is properly inserted and functional. Check device settings for export format. |
8. სპეციფიკაციები
Technical specifications for the GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector.
| ფუნქცია | სპეციფიკაცია |
|---|---|
| მოდელის ნომერი | GUF750 |
| ჩვენება | 5 დიუმიანი IPS სენსორული ეკრანი |
| გამტარუნარიანობა | 0.1-20 MHz |
| Sampling შეფასება | 100MSPS (Hardware), 400MSPS (Equivalent) |
| მოგება | 120dB (0.1dB step) |
| Horizontal Linearity | 0.5% |
| Flaw Characterization | Dual-Gate (A/B) alarm, Peak/Leading-edge detection, RF/Full-wave demodulation, DAC/AVG |
| სტანდარტების შესაბამისობა | AWS D1.1, NB/T 47013, GB/T 11345 |
| B-Scan Synthesis | High-resolution, φ2mm sensitivity, ≤500-frame recording |
| მონაცემთა ექსპორტი | SD card (A/B-scans, thickness maps) |
| პულსერი | Adjustable (25-300V, 5ns step), Square/Dual-square wave modes |
| Dampინგ | 100Ω/1000Ω (Dynamic) |
| PRF (Pulse Repetition Frequency) | 0-10KHz |
| ბატარეა | 1 Lithium Polymer (7.4V 8000mAh) |
| ბატარეის მუშაობის დრო | 12 საათამდე |
| ოპერაციული ტემპერატურა | -10°C-დან 55°C-მდე |
| ზონდის პორტები | Dual LEMO-00 |
| დაკავშირება | USB-C, Mini-USB |
| ნივთის წონა | 2.2 ფუნტი (დაახლოებით 1 კგ) |
| პაკეტის ზომები | 10 x 9 x 5 ინჩი (დაახლოებით 25.4 x 22.86 x 12.7 სმ) |
9. ინფორმაცია გარანტიის შესახებ
The GOYOJO GUF750 Ultrasonic Flaw Detector comes with a manufacturer's warranty. Please refer to the warranty card included in your package or visit the official GOYOJO website for detailed terms and conditions regarding coverage, duration, and claim procedures. Keep your proof of purchase for warranty validation.
10. მომხმარებელთა მხარდაჭერა
For technical assistance, troubleshooting beyond this manual, or inquiries about your GOYOJO GUF750, please contact GOYOJO customer support. Contact information can typically be found on the official GOYOJO webსაიტზე ან პროდუქტის შეფუთვაზე.
Ask a question about this manual
Ask about setup, troubleshooting, compatibility, parts, safety, or missing instructions. Manuals+ will review the question and use this page’s manual context to help answer it.